Ensayos eléctricos de componentes

  

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Los ensayos eléctricos se realizan en dispositivos pasivos. Gracias a las más novedosas instalaciones y equipos, en ALTER tenemos la capacidad de caracterizar la comportamiento eléctrico de las resistencias, condensadores, bobinas, sensores de temperatura, relés, conectores, etc., en una amplia gama de condiciones de ensayos y de acuerdo con sus especificaciones aplicables, así como las necesidades del proyecto.

  • Medición y ensayo de dispositivos de alta potencia
  • Dieléctrico soportando un voltaje de hasta 12 KV.
  • Caracterización en dispositivos LCR hasta 3 GHz.
  • Dispositivos activos, desde los discretos (diodos y TRT) hasta los lineales y digitales estándar hasta que los componentes del VLSI, puedan ser probados.
  • Trazadores de curvas de semiconductores B 1505 HP 4156 HP 4155 HP 4145 etc.
  • Unidades del medidor de la fuente Keithley 2636 2425 2651 2657 etc.
  • SSA Analizador de fuentes de señales E 5052 etc.
  • Osciloscopios de hasta 12 GHz y 40 GSa /s
  • Señal mixta ATE Ultraflex de Teradyne, ATX 7006 de Applicos etc.
  • Capacidad de prueba a temperaturas extremas (200 ºC a 200 ºC)
  • Diseño y fabricación de tableros multicapa (hasta 16 capas).
  • Medición de la corriente de pequeño sesgo ( fA)
  • Medición de alta velocidad y precisión de los convertidores A/D y D/A hasta 24 bits.
  • Medición de +1000 dispositivos digitales de E/S.
  • Medición de la señal mixta ASIC.
  • Osciladores de alta precisión con medición de ruido de fase baja.
  • Dispositivo de prueba de hasta 100 Vcc.
  • El dispositivo prueba hasta 140 A.

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