Los ensayos eléctricos se realizan en dispositivos pasivos.
- Medición y ensayo de dispositivos de alta potencia
- Dieléctrico soportando un voltaje de hasta 12 KV.
- Caracterización en dispositivos LCR hasta 3 GHz.
- Dispositivos activos, desde los discretos (diodos y TRT) hasta los lineales y digitales estándar hasta que los componentes del VLSI, puedan ser probados.
- Trazadores de curvas de semiconductores B 1505 HP 4156 HP 4155 HP 4145 etc.
- Unidades del medidor de la fuente Keithley 2636 2425 2651 2657 etc.
- SSA Analizador de fuentes de señales E 5052 etc.
- Osciloscopios de hasta 12 GHz y 40 GSa /s
- Señal mixta ATE Ultraflex de Teradyne, ATX 7006 de Applicos etc.
- Capacidad de prueba a temperaturas extremas (200 ºC a 200 ºC)
- Diseño y fabricación de tableros multicapa (hasta 16 capas).
- Medición de la corriente de pequeño sesgo ( fA)
- Medición de alta velocidad y precisión de los convertidores A/D y D/A hasta 24 bits.
- Medición de +1000 dispositivos digitales de E/S.
- Medición de la señal mixta ASIC.
- Osciladores de alta precisión con medición de ruido de fase baja.
- Dispositivo de prueba de hasta 100 Vcc.
- El dispositivo prueba hasta 140 A.
Gracias a las más novedosas instalaciones y equipos tenemos la capacidad de caracterizar la comportamiento eléctrico de las resistencias, condensadores, bobinas, sensores de temperatura, relés, conectores, etc., en una amplia gama de condiciones de ensayos de laboratorio y de acuerdo con sus especificaciones aplicables, así como las necesidades del proyecto.
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